连续谱X射线在ICT中的散射修正

• 作者: 卿莉 彭光含 杨学恒
• 来源期刊: 无损检测
• 学科: 工学
• 关键词: 工业计算机断层扫描成像技术 散射修正 连续谱 X射线
• 年，卷（期）: 2006,（11）
• 所属期刊栏目: 科研成果与学术交流
• 页码范围: 579-581
• 页数: 3页
• 分类号: TG115.28|O434.1|TP391
• 字数: 1655字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-6656.2006.11.006

摘要

在X射线工业计算机断层扫描成像技术(ICT)中,连续谱X射线透射物质时,发生了光子散射现象,有用信息连同散射光子一起进入探头形成伪影.如未修正,必引起赝像.利用X射线透射物质时的X光子散射遵循的Compton散射强度方程,建立了连续谱X射线完整精确的散射修正模型及其修正方法.为有效去除连续谱X光子的散射造成的图像伪影提供比较完善精确的修正模型和修正方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨学恒	重庆大学数理学院	39	294	9.0	15.0
2	彭光含		49	241	8.0	12.0
3	卿莉		4	8	2.0	2.0