EDXRF-1024便携式高精度X荧光分析仪

• 作者: 任家富 周建斌 庹先国 林娟 穆克亮
• 来源期刊: 核技术
• 学科: 工学
• 关键词: X射线荧光仪 现场分析测量 放射性同位素源
• 年，卷（期）: 2006,（9）
• 所属期刊栏目: 先进探测仪器及方法
• 页码范围: 698-700
• 页数: 3页
• 分类号: TL271
• 字数: 2300字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-3219.2006.09.013

摘要

EDXRF-1024便携式高精度X荧光分析仪采用的是新型电致冷Si-PIN半导体探测器和放射性同位素源,在无液氮冷却的条件下能够实现对样品的现场测量;仪器一次可以同时测量5种以上元素,甚至多达十余种元素的定性、定量测定,其检出限可达10---200mg/kg,在原位条件下分析精度可达2%-10%.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	任家富		72	315	10.0	12.0
2	庹先国		197	2700	20.0	46.0
3	穆克亮		36	292	10.0	15.0
4	周建斌		80	499	13.0	16.0
5	林娟		13	68	3.0	8.0