继电器贮存寿命加速试验装置的研究

• 作者: 刘宏勋 李文华 陆俭国 骆燕燕
• 来源期刊: 继电器
• 学科: 工学
• 关键词: 贮存寿命 继电器 寿命加速试验 加速应力 电器可靠性
• 年，卷（期）: 2006,（20）
• 所属期刊栏目: 经验交流
• 页码范围: 70-72
• 页数: 3页
• 分类号: TM581
• 字数: 2447字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-3415.2006.20.017

摘要

继电器的应用十分广泛,其寿命和可靠性非常重要.寿命不仅仅是指电寿命和机械寿命,也包括贮存寿命.产品在贮存过程中处于非工作状态,因贮存而失效是长期的缓变过程,采用贮存寿命加速试验可大大缩短试验时间和费用.介绍了研制的继电器贮存寿命加速试验装置,采用寿命加速试验方案能同时对处在不同应力水平下的多台继电器的多对触点进行电参数检测,以完成贮存寿命加速试验.进一步工作集中在进行长时间的试验并积累试验数据,进而预测贮存寿命.对失效试品作表面物理分析以便分析其失效机理,验证寿命加速试验是否正常.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陆俭国		132	1621	21.0	31.0
2	刘宏勋		20	54	5.0	6.0
3	李文华		69	428	12.0	18.0
4	骆燕燕		36	355	9.0	17.0