压电介质中Ⅰ型裂纹的断裂研究

• 作者: 李娜 赵明皞 陈美英 魏星
• 来源期刊: 机械强度
• 关键词: 压电介质 椭圆孔口 裂纹 精确解 应变能密度因子
• 年，卷（期）: 2006,（3）
• 所属期刊栏目: 研究简报
• 页码范围: 401-405
• 页数: 5页
• 分类号: O3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1001-9669.2006.03.019

摘要

利用Stroh公式,在精确边界条件下求解二维无限大压电介质中椭圆型孔口在无穷远力-电联合载荷作用下的精确解,在此基础上利用自洽法得到裂纹的真实张开位移.基于应变能密度因子理论,研究Ⅰ型裂纹的断裂失效行为.结果表明,应变能密度因子随着电场的增加而增大,正电场加速裂纹扩展,而负电场阻止裂纹扩展.真实裂纹的应变能密度因子总是介于可导通和不可导通裂纹之间.可导通裂纹的应变能密度因子与外加电场无关,在正电场的情形下,不可导通裂纹的应变能密度因子大于可导通裂纹的应变能密度因子,而在负电场下则相反.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李娜	郑州大学工程力学系	108	434	9.0	16.0
2	赵明皞	郑州大学工程力学系	10	49	5.0	6.0
3	魏星	郑州大学工程力学系	12	52	5.0	7.0