ATR技术研究固体表面物理性质

• 作者: 刘军民 张俊华
• 来源期刊: 江西科学
• 关键词: ATR技术 固体表面 物理性质
• 年，卷（期）: 2006,（5）
• 所属期刊栏目: 研究报告
• 页码范围: 283-286
• 页数: 4页
• 分类号: O4
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-3679.2006.05.010

摘要

一种利用光学中衰减全反射特性及拟合法对介质上蒸镀的金属薄膜物理性质进行研究的方法,并运用该方法对金属薄膜的厚度和复介电常数进行了精确测定,该方法是研究固体表面物理性质的一种有效的方法和技术.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘军民	南昌航空工业学院自动化学院	9	6	1.0	2.0
2	张俊华	江西省机械职工大学电子系	5	10	2.0	3.0