一种基于遗传算法的VDSM IC电源网格动态IR-drop分析新方法

• 作者: 严晓浪 史峥 张培勇
• 来源期刊: 电路与系统学报
• 学科: 工学
• 关键词: VLSI CMOS 电源网格分析 组合电路
• 年，卷（期）: 2006,（1）
• 所属期刊栏目: 论文
• 页码范围: 1-5
• 页数: 5页
• 分类号: TN402
• 字数: 3799字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-0249.2006.01.001

摘要

提出了一种用于超深亚微米集成电路电源网格IR-drop验证的新方法.该方法以遗传算法为基础,与已有的分析方法相比,该方法兼具静态IR-drop分析法和动态IR-drop分析法的优点,适用于包含大型组合模块的超大规模集成电路,可主动寻找电路中最大IR-drop.通过对ISCAS85电路实现的验证,发现了静态分析法不能发现的芯片边缘IR-drop问题.实验结果验证了该方法的正确性与有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	史峥	浙江大学超大规模集成电路设计研究所	51	176	7.0	11.0
2	严晓浪	浙江大学超大规模集成电路设计研究所	246	1634	19.0	29.0
3	张培勇	浙江大学超大规模集成电路设计研究所	17	46	3.0	6.0