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摘要:
采用熔融-急冷法制备CdS掺杂Ge-Ga-S硫系玻璃,对玻璃的XPS研究表明:玻璃样品中含有Ge,Ga,Cd,S 4种元素,样品的主要成分是GeS2,Ga2S3和CdS;Ge,Ga,Cd,S元素的XPS谱线的位移归因于化学位移和玻璃的结构的共同作用;Cd3d3/2和Cd3d5/2的XPS峰值随CdS含量的增加而明显增强.
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文献信息
篇名 CdS掺杂Ge-Ga-S玻璃XPS研究
来源期刊 硅酸盐通报 学科 工学
关键词 熔融-急冷法 Ge-Ga-S硫系玻璃 XPS
年,卷(期) 2006,(1) 所属期刊栏目 研究工作快报
研究方向 页码范围 69-71
页数 3页 分类号 TQ17
字数 2548字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-1625.2006.01.019
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 赵修建 武汉理工大学材料科学与工程学院 220 2735 25.0 43.0
2 顾少轩 52 253 9.0 13.0
6 胡海平 武汉理工大学材料科学与工程学院 3 20 3.0 3.0
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研究主题发展历程
节点文献
熔融-急冷法
Ge-Ga-S硫系玻璃
XPS
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
硅酸盐通报
月刊
1001-1625
11-5440/TQ
16开
北京市朝阳区东坝红松园1号中材人工晶体研究院733信箱
80-774
1980
chi
出版文献量(篇)
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10
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58151
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