薄膜内杂质分布的分形特征

• 作者: 夏志林 范正修 邵建达
• 来源期刊: 中国激光
• 学科: 物理学
• 关键词: 薄膜 损伤阈值 分形分布 杂质
• 年，卷（期）: 2006,（1）
• 所属期刊栏目: 薄膜
• 页码范围: 111-115
• 页数: 5页
• 分类号: O484
• 字数: 4791字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0258-7025.2006.01.024

摘要

薄膜中总会存在一些杂质或者缺陷,杂质和缺陷密度的有限性导致了薄膜破坏的概率性.提出了不同尺寸杂质和缺陷分布的分形特征,分析了薄膜破坏概率与辐照激光功率密度的关系,计算结果与实验结果吻合得很好.得到了一种确定薄膜中最具危害性杂质的热学特性及分布密度的方法.同时提出了杂质的敏感尺寸范围(SSR)的概念,由此得到材料激光损伤阈值的新的确定表达式,该表达式反映的损伤阈值与激光脉宽的关系更加符合实验结果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邵建达	中国科学院上海光学精密机械研究所	212	2131	21.0	29.0
2	范正修	中国科学院上海光学精密机械研究所	203	2312	23.0	32.0
3	夏志林	中国科学院上海光学精密机械研究所	5	37	4.0	5.0