细分采样叠加技术在推扫式长波红外成像中的应用

• 作者: 傅雨田 张滢清 王建宇
• 来源期刊: 量子电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 光电子学 长波 红外 细分采样 叠加 PTF
• 年，卷（期）: 2006,（2）
• 所属期刊栏目: 光电技术与材料
• 页码范围: 263-267
• 页数: 5页
• 分类号: TN21
• 字数: 2040字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-5461.2006.02.027

摘要

在推扫式长波红外成像系统中,由于强辐射背景的存在,探测器的饱和积分时间只占像元驻留时间的十分之一甚至几十分之一,针对这种情况,将细分采样叠加技术应用在该类成像系统中,可以有效地利用推扫成像方式相对于机械扫描成像方式在驻留时间上的优势,达到提高系统信噪比的目的.文中首先针对短积分时间长波红外探测器的特点阐述了细分采样叠加技术原理,从理论上分析了叠加对PTF和图像信噪比SNR的影响.接着简要叙述了基于细分采样叠加技术的长波红外成像系统的软硬件研制情况,最后通过成像实验,验证了系统所采用的各种方法的有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张滢清	中国科学院上海技术物理研究所	2	27	2.0	2.0
2	傅雨田	中国科学院上海技术物理研究所	36	238	9.0	14.0
3	王建宇	中国科学院上海技术物理研究所	162	1466	20.0	27.0