基于点模式匹配的BGA芯片视觉检测与定位算法及其实现

• 作者: 刘海明 胡跃明 袁鹏 黄恢乐
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: BGA 点模式 视觉检测 定位算法
• 年，卷（期）: 2006,（2）
• 所属期刊栏目: 自动化测试
• 页码范围: 144-145,154
• 页数: 3页
• 分类号: TP273.5|TP391.41
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1671-4598.2006.02.002

摘要

点模式匹配是视觉测量中的一种新方法;针对贴片机生产中BGA芯片的图像识别对中问题,系统地介绍了BGA的视觉检测任务,提出了基于点模式匹配的快速定位算法;该算法针对BGA焊球分布特点,对传统点模式匹配算法进行优化,大大减少了运算量;现场实际运行结果表明该算法的速度和精度都能满足实际生产的需要,并具有较强的鲁棒性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	胡跃明	华南理工大学自动化科学与工程学院	147	1905	22.0	37.0
2	刘海明	华南理工大学自动化科学与工程学院	13	148	9.0	12.0
3	袁鹏	华南理工大学自动化科学与工程学院	34	419	12.0	19.0
4	黄恢乐	华南理工大学自动化科学与工程学院	4	81	4.0	4.0