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微电子封装无铅钎焊的可靠性研究
微电子封装无铅钎焊的可靠性研究
作者:
姚高尚
梁凯
熊腊森
简虎
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
无铅钎焊
微电子封装
可靠性
摘要:
本文阐述了微电子封装采用无铅钎料的必要性,概述了无钎铅料的研究现状,最后着重分析讨论了微电子封装无铅钎焊的可靠性问题.
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文献信息
篇名
微电子封装无铅钎焊的可靠性研究
来源期刊
电子质量
学科
工学
关键词
无铅钎焊
微电子封装
可靠性
年,卷(期)
2006,(4)
所属期刊栏目
可靠性分析与研究
研究方向
页码范围
28-31
页数
4页
分类号
TN406
字数
4998字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1003-0107.2006.04.011
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
姚高尚
华中科技大学材料学院
9
89
4.0
9.0
2
简虎
华中科技大学材料学院
11
145
6.0
11.0
3
熊腊森
华中科技大学材料学院
41
325
9.0
17.0
4
梁凯
华中科技大学材料学院
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引证文献(0)
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2018(1)
引证文献(0)
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引证文献(0)
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研究主题发展历程
节点文献
无铅钎焊
微电子封装
可靠性
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子质量
主办单位:
中国电子质量管理协会
工业和信息化部电子第五研究所(中国赛宝实验室)
出版周期:
月刊
ISSN:
1003-0107
CN:
44-1038/TN
开本:
大16开
出版地:
广州市五羊新城广兴花园32号一层
邮发代号:
46-39
创刊时间:
1980
语种:
chi
出版文献量(篇)
7058
总下载数(次)
32
总被引数(次)
15176
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