ICP-AES法测定纯铜中多种杂质元素

• 作者: 纪杉
• 来源期刊: 现代仪器与医疗
• 关键词: 电感耦合等离子发射光谱法(ICP-AES) 纯铜 杂质元素
• 年，卷（期）: 2006,（5）
• 所属期刊栏目: 研究报告
• 页码范围: 23,20
• 页数: 2页
• 分类号: TG1
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-7916.2006.05.007

摘要

本文采用电感耦合等离子发射光谱法(ICP-AES)同时测定高纯铜中的多种杂质元素(P, Mn, Fe, Ni, Zn, As, Se, Ag, Cd, Sn, Sb).优化仪器的工作条件,以基体匹配法配制工作曲线标样,有效地消除基体干扰.检出限为0.000004%～0.0001%,回收率在85.9%～105%范围内.方法简便、可满足工业分析要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	纪杉	岛津国际贸易(上海)有限公司分析中心	4	18	2.0	4.0