低成本的两级扫描测试结构

• 作者: 向东 李开伟
• 来源期刊: 计算机学报
• 学科: 工学
• 关键词: 可测试性设计 扫描测试 测试时间 测试功耗 测试数据量
• 年，卷（期）: 2006,（5）
• 所属期刊栏目: 研究论文与技术报告
• 页码范围: 786-791
• 页数: 6页
• 分类号: TN4
• 字数: 4707字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0254-4164.2006.05.014

摘要

提出了一种两级扫描测试结构:根据电路结构信息对时序单元进行分组,同组的时序单元在测试生成电路中共享同一个伪输入;将时序单元划分到不同的时钟域,在测试向量的置入过程中只有很小一部分时序单元发生逻辑值的翻转;引入新的异或网络结构,消除了故障屏蔽效应.实验结果表明,该两级测试结构与以往的方法相比,在保证故障覆盖率的同时,大大降低了测试时间、测试功耗和测试数据量.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	向东	清华大学软件学院	119	1085	17.0	27.0
2	李开伟	清华大学软件学院	2	10	1.0	2.0