黄瓜枯萎病抗性基因的连锁分子标记

• 作者: 于广建 张峰 张海英 张海霞 毛爱军 王永健 许勇
• 来源期刊: 生物技术通报
• 学科: 农学
• 关键词: 植黄瓜 枯萎病 抗性基因 AFLP
• 年，卷（期）: 2006,（z1）
• 所属期刊栏目: 研究报告
• 页码范围: 320-322
• 页数: 3页
• 分类号: S4
• 字数: 2086字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-5464.2006.z1.070

摘要

黄瓜枯萎病是危害我国黄瓜的主要病害.本实验以黄瓜抗枯萎病亲本WIS2757和感枯萎病亲本津研2号及其F2代分离群体为试材,采用分离群体分组分析法(BSA)进行了与黄瓜抗枯萎病基因连锁的分子标记研究.AFLP分析表明:引物对P15M5扩增出的特异DNA片段P15M5-310与WIS2757黄瓜枯萎病抗性基因连锁,遗传距离为7cM.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张海英		5	109	5.0	5.0
2	张海霞		2	46	2.0	2.0
6	张峰		4	93	4.0	4.0
7	毛爱军		9	178	6.0	9.0
8	许勇		5	154	5.0	5.0
9	王永健		11	216	8.0	11.0
10	于广建	东北农业大学园艺系	33	605	15.0	24.0