降低有损耦合微带线间串扰的方法分析

• 作者: 刘元安 唐碧华 黎淑兰
• 来源期刊: 电波科学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 有损耦合微带线 串扰 FDTD
• 年，卷（期）: 2006,（4）
• 页码范围: 503-507
• 页数: 5页
• 分类号: TN811
• 字数: 2401字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-0388.2006.04.007

摘要

为降低和控制有损耦合微带线间的串扰,在强信号线两边各插入了一列用金属填充的、顶端用微带连接的接地孔.利用FDTD方法对该结构进行模拟并利用FEM法进行了验证.模拟结果表明串扰衰减程度与基底介质的损耗、接地孔参数有关.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘元安	北京邮电大学电子工程学院	192	1285	17.0	26.0
2	唐碧华	北京邮电大学电子工程学院	23	301	9.0	17.0
3	黎淑兰	北京邮电大学电子工程学院	19	164	8.0	12.0