AVS解码器芯片测试的研究

• 作者: 曹建林 赵力 高立鑫 黄文海
• 来源期刊: 电视技术
• 学科: 工学
• 关键词: AVS标准 解码芯片 测试
• 年，卷（期）: 2006,（12）
• 所属期刊栏目: 标准、检测与仪器
• 页码范围: 85-87
• 页数: 3页
• 分类号: TN919.81
• 字数: 3451字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-8692.2006.12.026

摘要

研究了涉及AVS编解码的测试技术,重点探讨了当前的AVS解码芯片测试方法,主要包括电特性、一致性测试和解码性能测试等方面.初步形成了一套从芯片的选择,到测试方案的确定、测试仪器的选择以及测试平台构建的有效测试方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵力	东南大学信息科学与工程学院	308	3093	27.0	44.0
2	曹建林		7	14	3.0	3.0
3	黄文海		13	25	3.0	4.0
4	高立鑫	东南大学信息科学与工程学院	2	29	2.0	2.0