低调制度数控加工工艺

• 作者: 王健 陈贤华
• 来源期刊: 中国工程物理研究院科技年报
• 学科: 工学
• 关键词: 数控加工工艺 大口径光学元件 调制度 抛光技术 加工表面 传统方法 抛光磨头 外形尺寸
• 年，卷（期）: 2006,（1）
• 页码范围: 162-163
• 页数: 2页
• 分类号: TH744.1

摘要

小工具数控抛光技术已成为ICF大口径光学元件制造的主工艺技术，由于这种工艺技术使用了比被加工元件外形尺寸小得多的抛光磨头来进行加工，所以被加工表面将呈现出不同于传统方法加工表面的特征。与传统抛光技术相比，被加工表面的某些频率成分可能增加，可能会对光学系统带来不良的影响。