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摘要:
利用PECVD设备沉积非晶硅薄膜,然后放入特制的快速热退火炉中进行退火.利用X射线衍射仪(XRD)分析退火后的薄膜晶体结构,用电导率测试仪测试其暗电导率.研究结果表明,利用快速热退火晶化能够使非晶硅薄膜在较低温度下,在较短时间内发生晶化.
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多晶硅
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内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 低温快速热退火晶化制备多晶硅薄膜
来源期刊 可再生能源 学科 工学
关键词 快速热退火 非晶硅薄膜 暗电导
年,卷(期) 2006,(3) 所属期刊栏目 研究与试验
研究方向 页码范围 13-15
页数 3页 分类号 TN3
字数 2458字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1671-5292.2006.03.004
五维指标
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研究主题发展历程
节点文献
快速热退火
非晶硅薄膜
暗电导
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
可再生能源
月刊
1671-5292
21-1469/TK
大16开
辽宁省营口市西市区银泉街65号
8-61
1983
chi
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