新一代X射线探测器在射线实时成像检测中的应用

• 作者: 李衍
• 来源期刊: 无损检测
• 学科: 工学
• 关键词: 非晶硅(a-Si) 平板探测器 图像增强器 射线实时成像 射线直接数字成像 像质计灵敏度 空间分辨率
• 年，卷（期）: 2006,（9）
• 所属期刊栏目: 仪器方法
• 页码范围: 488-490,492
• 页数: 4页
• 分类号: TG115.28
• 字数: 2630字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-6656.2006.09.013

摘要

介绍非晶硅(a-Si)平板探测器的技术特性,及其取代常用的图像增强器在焊缝和铸件的工业射线实时成像(RTR)检测中的应用.试验结果证明,选用适当型号的a-Si平板探测器,可获得优于图像增强器的像质计(IQI)灵敏度和空间分辨率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李衍		52	395	12.0	18.0