图示仪在LED失效分析中的应用

• 作者: 蔡伟智
• 来源期刊: 电子质量
• 学科: 工学
• 关键词: 发光二极管LED 半导体特性图示仪 失效分析 电流-电压(I-V)特性曲线
• 年，卷（期）: 2006,（12）
• 所属期刊栏目: 可靠性分析与研究
• 页码范围: 31-33
• 页数: 3页
• 分类号: TN3
• 字数: 2639字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2006.12.015

摘要

本文基于图示仪的检测原理,说明了其测量LED参数的方法,提出了在LED失效分析中图示仪几个特殊的应用和操作方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蔡伟智		9	38	5.0	5.0