基于MCS-51单片机的智能辐射测厚仪

• 作者: 朱建芳
• 来源期刊: 仪表技术与传感器
• 学科: 工学
• 关键词: 单片机 辐射测厚仪 智能化
• 年，卷（期）: 2006,（2）
• 所属期刊栏目: 仪器与仪表
• 页码范围: 13-15
• 页数: 3页
• 分类号: TP274.1
• 字数: 3855字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-1841.2006.02.006

摘要

分析了能广泛应用于金属轧制生产线上进行非接触式连续测量材料厚度的辐射测厚仪的工作原理,设计了智能辐射测厚仪的硬件和软件,利用单片机实现对测量数据的特殊处理、工作状态的自动识别、动态自动校正、动态温度补偿和人工修正等.实际应用表明,仪器达到了规定的技术指标,应用效果较好.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	朱建芳		11	33	4.0	5.0