截面分析法对任意凸形粒子周围界面过渡区厚度过高估计的解析解

• 作者: 孙伟 赵庆新 陈惠苏
• 来源期刊: 复合材料学报
• 学科: 工学
• 关键词: 截面分析法 界面过渡区厚度 粒子形状 放大倍数 几何概率 Cauchy均值定理 Crofton均值定理
• 年，卷（期）: 2006,（4）
• 页码范围: 155-163
• 页数: 9页
• 分类号: TU528.01
• 字数: 9124字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-3851.2006.04.027

摘要

借助于几何概率中的一些相关理论,从理论分析的角度,对表面为凸形曲线或曲面的二维和三维任意形状粒子建立了表观界面过渡区厚度统计平均值和实际界面过渡区厚度之间的定量关系.结果表明,对于二维凸形粒子,截面分析法所得的表观界面过渡区厚度的统计平均值与实际界面过渡区厚度之间的比值小于π/2.精确比值与粒子的形状有关.如果实际界面过渡区厚度与粒子的尺寸相比可以忽略的话,截面分析法所得的表观界面过渡区厚度的统计平均值与实际界面过渡区厚度之间的比值约等于π/2.对于三维凸形粒子,截面分析法所得的表观界面过渡区厚度的统计平均值与实际界面过渡区厚度之间的比值小于2,比值的精确解与粒子的形状有关.如果实际界面过渡区厚度与粒子的尺寸相比可以忽略的话,截面分析法所得的表观界面过渡区厚度的统计平均值与实际界面过渡区厚度之间的比值约等于2.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙伟	东南大学材料科学与工程系	431	11715	58.0	84.0
2	赵庆新	东南大学材料科学与工程系	55	606	13.0	22.0