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摘要:
用X射线光电子能谱(XPS)对金属钽丝表面进行了分析和研究.通过XPS全程宽扫描和窄扫描,分析了钽丝表面的元素成分和钽的化学态.分析结果表明,钽丝表面的元素成分为Ta,C,O,F,S,Cl,P,Fe,Si,Ni,Cr,Ti,Nb,W,Al.对溅射5 min前后的Ta 4f峰进行曲线拟合,分别得到2个Ta峰和4个Ta峰,对拟合后各个Ta峰的相对位置进行分析,可以得出以上各个Ta峰的化学态;钽丝表面钽的化学态分别为,溅射前 Ta2O5 和Ta5Si3,溅射后 Ta,Ta2O5,Ta5Si3.
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文献信息
篇名 金属钽丝表面的X射线光电子能谱分析
来源期刊 稀有金属 学科 工学
关键词 XPS 原子浓度
年,卷(期) 2006,(4) 所属期刊栏目 研究简报
研究方向 页码范围 564-566
页数 3页 分类号 TG115
字数 1711字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.0258-7076.2006.04.031
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李人哲 西北工业大学理学院应用化学系 3 15 1.0 3.0
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节点文献
XPS
原子浓度
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稀有金属
月刊
0258-7076
11-2111/TF
大16开
北京新街口外大街2号
82-167
1977
chi
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