被动元器件典型案例分析和改进方法

• 作者: 袁捷
• 来源期刊: 电子质量
• 学科: 工学
• 关键词: 被动元器件 可靠性分析 失效分析
• 年，卷（期）: 2006,（11）
• 所属期刊栏目: 可靠性分析与研究
• 页码范围: 36-39
• 页数: 4页
• 分类号: TN306
• 字数: 4728字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2006.11.011

摘要

本文使用八个案例,主要介绍了作者多年来在被动元器件领域的工作经验和体会,以及遇到的元器件典型失效分析和改进方法,从元器件的制造工艺和过程、整机厂使用元器件过程中应注意的问题,到测试方法的优化选择、检验标准的不断补充完善、产品特性的持续改进、失效样品的微观分析等各方面,说明元器件工程师所必须具备的可靠性分析和失效分析能力,从而把工作做得更好.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	袁捷		7	12	2.0	3.0