活性氧在硒致HepG2 DNA损伤中的作用

• 作者: 宫智勇 牛丕业 袁晶 邬堂春 邹云锋 陈学敏
• 来源期刊: 卫生研究
• 学科: 医学
• 关键词: 活性氧 亚硒酸钠 DNA损伤
• 年，卷（期）: 2006,（3）
• 所属期刊栏目: 论著
• 页码范围: 291-293
• 页数: 3页
• 分类号: R730.1|Q581
• 字数: 3071字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8020.2006.03.011

摘要

目的探讨亚硒酸钠(Na2SeO3)致HepG2细胞DNA损伤的作用机制.方法用0、2.5、5、10、20μmol/L的Na2SeO3、及分别加有还原性谷胱甘肽(GSH)和N-乙酰基-L-半胱氨酸(NAC)的Na2SeO3(10μmol/L)处理HepG2.用四甲基偶氮唑盐(MTT)比色法测定细胞活性;流式细胞仪测细胞内活性氧(ROS)的水平以及用彗星实验检测细胞的DNA损伤.结果5、10、20μmol/L Na2SeO3作用于HepG2 1h即引起ROS增加,12h后即导致细胞HepG2活性下降,24h后DNA损伤增强,与对照组相比,差异有统计学意义(P＜0.05);抗氧化剂GSH和NAC有效抑制了ROS升高,并增强了细胞活性,减弱了细胞DNA损伤,与未加GSH和NAC的Na2SeO3组(10μmol/L)相比,差异有统计学意义(P＜0.05).结论ROS的产生可能是亚硒酸钠造成HepG2 DNA损伤的重要原因.