在PMP中环境光强变化引入的误差与校正

• 作者: 向立群 苏显渝 黄磊
• 来源期刊: 光电工程
• 学科: 工学
• 关键词: 相位测量剖面术 环境光 校正算法 计算机模拟
• 年，卷（期）: 2006,（9）
• 所属期刊栏目: 光电测量
• 页码范围: 80-84
• 页数: 5页
• 分类号: TN247
• 字数: 2844字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-501X.2006.09.018

摘要

在运用相位测量剖面术(PMP)对物体进行三维面形测量时,由于测量现场环境光强变化而引入较大误差,严重影响测量精度.本文分析并数字模拟了由环境光变化引入的误差,提出一种现场检测环境光强变化并根据检测结果对获取的条纹图进行校正的方法.计算机模拟和实测表明:运用此方法后减小了测量误差,提高了测量精度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	苏显渝	四川大学光电科学技术系	258	3656	33.0	46.0
2	向立群	四川大学光电科学技术系	31	571	14.0	23.0
3	黄磊	四川大学光电科学技术系	35	114	6.0	9.0