多断口真空开关的绝缘与击穿统计特性

• 作者: 孙辉 廖敏夫 段雄英 邹继斌
• 来源期刊: 电网技术
• 学科: 工学
• 关键词: 双断口及多断口真空开关技术 击穿电压增益 击穿弱点 统计特性 高压电器
• 年，卷（期）: 2006,（5）
• 所属期刊栏目: 高电压技术
• 页码范围: 13-17,43
• 页数: 6页
• 分类号: TM561.2
• 字数: 4250字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-3673.2006.05.002

摘要

从长间隙真空开关的击穿特性出发,理论推导得到了双断口及多断口真空开关的击穿电压最大可能增益倍数,并运用"击穿弱点"的概念和概率统计方法建立了双断口及多断口真空开关的静态击穿统计分布模型,认为无论是双断口真空开关还是n个断口串联起来,其击穿的统计概率都比单断口的击穿统计概率小.建立了三断口真空开关试验模型,对单断口真空灭弧室模型和三断口真空开关模型进行了大量的冲击击穿特性试验.研究表明,三断口真空灭弧室比单断口真空灭弧室具有更低的击穿概率,试验数据与理论分布曲线基本吻合.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙辉	大连理工大学电气工程与应用电子技术系	59	1686	19.0	40.0
2	邹继斌	哈尔滨工业大学电气工程与自动化学院	103	1996	23.0	41.0
3	段雄英	大连理工大学电气工程与应用电子技术系	96	2171	27.0	42.0
4	廖敏夫	哈尔滨工业大学电气工程与自动化学院	3	63	3.0	3.0