含存储器数字电路板的TPS开发研究

• 作者: 成本茂 杨士元 王红 鞠艳秋
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 存储器 测试矢量集 结构测试 功能测试
• 年，卷（期）: 2006,（12）
• 所属期刊栏目: 支撑技术
• 页码范围: 926-929,934
• 页数: 5页
• 分类号: TN4
• 字数: 2872字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-353X.2006.12.013

摘要

提出了含存储器数字电路板的两种测试矢量集(TPS)开发方案.对含少量存储器芯片的电路板采用结构化的测试方案,即将RAM等效成时序电路模型,利用时序电路ATPG软件进行测试生成.对以RAM为主的存储器板提出了一种功能测试方案,采取压缩地址空间的方法,对RAM阵列进行读写操作.实际应用证明,这两种方案较好地满足了实际应用中的需要.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨士元	清华大学自动化系	124	1303	17.0	30.0
2	成本茂	清华大学自动化系	7	10	2.0	3.0
3	王红	清华大学自动化系	52	388	11.0	18.0
4	鞠艳秋	清华大学自动化系	2	2	1.0	1.0