二氧化钛压敏电阻势垒高度的测定

• 作者: 孟凡明
• 来源期刊: 电子元件与材料
• 学科: 工学
• 关键词: 材料检测与分析技术 二氧化钛 压敏陶瓷 势垒高度 热发射
• 年，卷（期）: 2006,（4）
• 所属期刊栏目: 测试技术
• 页码范围: 57-58
• 页数: 2页
• 分类号: TN304|TN379
• 字数: 1405字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2028.2006.04.019

摘要

按配方TiO2+0.3%(SrCO3+Bi2O3+SiO2)+0.075%Ta2O5,以典型的陶瓷工艺制备样品.通过I-T和I-V测量,将压敏电阻视为双向导通的二极管,应用半导体理论对低压下的I-V数据进行处理,测定了TiO2-SrCO3-Bi2O3-SiO2-Ta2O5压敏陶瓷的势垒高度φb为0.43 Ev.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孟凡明	安徽大学信息材料与器件重点实验室	46	205	9.0	12.0