自准直干涉仪测量光纤非线性克尔系数的参数优化

• 作者: 余重秀 刘兵 吉华 忻向军 曾军英
• 来源期刊: 半导体光电
• 学科: 工学
• 关键词: 自准直干涉仪 光纤克尔系数 光纤测量 自相位调制 相移
• 年，卷（期）: 2006,（6）
• 所属期刊栏目: 光电技术应用
• 页码范围: 788-791
• 页数: 4页
• 分类号: TN929.11
• 字数: 2409字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-5868.2006.06.037

摘要

理论上分析了以抗干扰很强的干涉法测量光纤非线性克尔系数γ的装置.这种装置由M-Z干涉仪组成.它是一种自补偿系统,可很好地解决环境引起的相移波动.由于测试脉冲强度受光纤衰减和耦合器分流的影响,输入段和输出段脉冲强度不一样,势必要引入系统相移扰动,造成与测试光纤SPM效应引入的相移并非一致的测试相移,这对准确测量光纤非线性克尔系数γ值形成误差.理论导出扰动相移误差量.模拟分析了影响相移误差量的参数,优化这些参数,并且找到最优参数值,使相移误差量最小.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	余重秀	北京邮电大学电子工程学院	167	966	15.0	21.0
2	忻向军	北京邮电大学电子工程学院	63	289	9.0	12.0
3	刘兵	北京邮电大学电子工程学院	25	43	4.0	5.0
7	曾军英	北京邮电大学电子工程学院	7	72	5.0	7.0
8	吉华	北京邮电大学电子工程学院	3	1	1.0	1.0