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摘要:
报道了p-GaN/Al0.35Ga0.65N/GaN应变量子阱结构的肖特基紫外探测器的制备及性能.器件的测试结果表明,在p-GaN/Al0.35Ga0.65N/GaN双异质结中强烈的压电极化和Stark效应共同作用下使得器件在正偏和反偏时的响应光谱都向短波方向移动了10nm.零偏下器件在280nm时的峰值响应为0.022A/W,在反向偏压为1V时,峰值响应增加到0.19A/W,接近理论值.在正向偏压下器件则呈平带状态,并在283和355nm处分别出现了两个小峰.在考虑极化的情况下,通过器件中载流子浓度分布的变化解释了器件在不同偏压下的响应特性,发现p-GaN/Al0.35Ga0.65N/GaN中的极化效应对器件的响应特性影响很大,通过改变偏压和适当的优化设计可以使探测器在紫外波段进行选择性吸收.
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文献信息
篇名 p-GaN/Al0.35Ga0.65N/GaN应变量子阱肖特基紫外探测器
来源期刊 半导体学报 学科 工学
关键词 AlGaN 二维空穴气 肖特基 极化效应
年,卷(期) 2006,(10) 所属期刊栏目 研究论文
研究方向 页码范围 1861-1865
页数 5页 分类号 TN304.2
字数 2965字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:0253-4177.2006.10.032
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 龚海梅 中国科学院上海技术物理研究所、传感技术国家重点实验室 69 451 10.0 18.0
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半导体学报(英文版)
月刊
1674-4926
11-5781/TN
大16开
北京912信箱
2-184
1980
eng
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