高功率微波辐射后下丘脑神经元凋亡和线粒体膜电位与Ca2+的变化

• 作者: 孟丽 彭瑞云 徐天昊 王德文 王水明 胡文华 苏镇涛 董波 马俊杰 高亚兵
• 来源期刊: 中华劳动卫生职业病杂志
• 学科: 医学
• 关键词: 微波 神经元 细胞凋亡 钙 膜电位
• 年，卷（期）: 2006,（12）
• 所属期刊栏目: 论著
• 页码范围: 739-741
• 页数: 3页
• 分类号: R3
• 字数: 2763字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3760/cma.j.issn.1001-9391.2006.12.010

摘要

目的 探讨高功率微波辐射后下丘脑神经元凋亡、线粒体膜电位与Ca2+的变化.方法 以10与30 mW/cm2高功率微波辐射原代培养的下丘脑神经元,于辐射后6 h采用倒置显微镜和流式细胞术检测细胞的凋亡、线粒体膜电位与胞浆钙离子的变化.结果 辐射后6 h,10与30 mW/cm2组凋亡率与假辐射组相比均明显增加;30 mW/cm2组辐射后坏死率与假辐射组比较亦明显升高,差异有统计学意义(P＜0.05).辐射后6 h,30 mW/cm2组Ca2+明显升高,膜电位性明显下降,差异均有统计学意义(P＜0.01).结论 细胞凋亡是下丘脑神经元死亡的主要方式之一,胞浆内Ca2+超载及线粒体膜电位的下降参与其损伤过程.