19F+27Al耗散反应产物截面测量中的不重复性

• 作者: Sergey Yu Kun 刘建成 吴和宇 周平 徐华根 徐瑚珊 李志常 李松林 段利敏 王琦 白真 董玉川 许国基 赵葵 路秀琴 陈若富 韩建龙
• 来源期刊: 高能物理与核物理
• 学科: 物理学
• 关键词: 耗散反应产物 微分截面 几率分布 统计性质
• 年，卷（期）: 2006,（2）
• 所属期刊栏目: 核与重离子物理
• 页码范围: 108-112
• 页数: 5页
• 分类号: O57
• 字数: 4610字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0254-3052.2006.02.005

摘要

在中国原子能科学研究院的HI-13串列静电加速器上完成了114MeV和118.75MeV的19F+27Al耗散反应产物B,C,N,O,F,Ne,Na和Mg的微分截面测量.条形27Al同位素靶的大小尺寸为10mm×50mm,平均厚度约67μg/cm2.固定入射束流19F的能量,通过移动靶位,先后轰击了靶上20个不同的位置.实验结果表明,在弹靶系统、入射能量以及探测系统都相同的多次独立的微分截面测量中,截面的涨落不呈现高斯型几率分布.截面测量的这种不重复现象难以用有限计数率的统计性质来解释.