边界扫描技术在VLSI电路设计中的应用研究

• 作者: 王燕
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 边界扫描 逻辑可编程扫描链方法 验证板
• 年，卷（期）: 2006,（10）
• 所属期刊栏目: 自动化测试
• 页码范围: 1307-1309
• 页数: 3页
• 分类号: TP2
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1671-4598.2006.10.010

摘要

边界扫描技术(BST)是一种新型的VLSI电路测试方法,但在扫描链路的设计中如何将不同厂家、不同型号、不同工作电压的BS器件实现JTAG互连,如何将边界扫描测试、在线编程和仿真结合起来一直是一个亟待解决的问题;为解决上述问题,在大规模集成电路设计中采用逻辑可编程扫描链方法,利用边界扫描技术对电路板进行测试,实验证明采用逻辑可编程扫描链方法可有效的解决测试与在线编程(或在线仿真)的兼容问题.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王燕		6	42	4.0	6.0