未来测试系统结构

• 作者: 陈光(礻禹)
• 来源期刊: 测控技术
• 学科: 工学
• 关键词: 测试系统 结构 LXI(LAN,对仪器的扩展)
• 年，卷（期）: 2006,（7）
• 所属期刊栏目: 综述
• 页码范围: 1-5
• 页数: 5页
• 分类号: TP274
• 字数: 5293字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8829.2006.07.001

摘要

在测试领域大量测试系统结构的存在使选择很易混淆,为此,总结了现存测试系统结构(GPIB、PC、VXI和PXI)的特点,并提出了一种新的基于LAN的测试系统结构.对各种测试系统结构的价格、通道数、尺寸、I/O速度和适应性等进行了比较,其目的是为未来的应用中提供最有效的测试系统.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈光(礻禹)	成都电子科技大学自动化工程学院	3	41	3.0	3.0