干式并联电抗器包封进水对运行可靠性影响的试验研究

• 作者: 严飞 倪学锋 姜胜宝 林浩 沈静
• 来源期刊: 电力设备
• 学科: 工学
• 关键词: 干式空心并联电抗器 包封 进水受潮 烧损 可靠性
• 年，卷（期）: 2006,（12）
• 所属期刊栏目: 电抗器专题
• 页码范围: 4-6
• 页数: 3页
• 分类号: TM4
• 字数: 2416字
• 语种: 中文

摘要

干式空心并联电抗器在运行中曾发生多起烧损事故.人们在分析这些事故中普遍认为电抗器包封进水是导致其事故的主要原因,并对此采取了许多措施,然而运行的结果是事故并没有因此而减少.对此,作者对包封进水对电抗器可靠性的影响进行了试验研究.文章介绍了进行该试验研究所用试品、试验方法、试验过程及结果,并对试验前后的结果进行了对比分析.试验结果认为包封进水对电抗器可靠性有影响,但不是主要因素.建议进一步进行机理研究,并有针对地采取措施.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	倪学锋		11	132	7.0	11.0
2	林浩		5	71	4.0	5.0
3	姜胜宝		3	66	3.0	3.0
4	严飞		8	154	6.0	8.0
5	沈静		1	23	1.0	1.0