图形处理器及存储器动态检测技术

• 作者: 吕卫国 吴佳
• 来源期刊: 电脑开发与应用
• 学科: 工学
• 关键词: 动态检测 图形处理器 存储器 分辨率 屏幕刷新
• 年，卷（期）: 2006,（1）
• 所属期刊栏目: 图形图像
• 页码范围: 47-49
• 页数: 3页
• 分类号: TP317.4|TP274
• 字数: 1942字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-5850.2006.01.016

摘要

主要讨论了TMS34010及相关DRAM、VRAM存储器的动态检测技术及实现方案,同时讨论了实现对应集成电路动态检测方法,提出了一套检测系统方案,重点描述了工程化过程中ISA设备动态上电技术、TMS34010的测试技术及VRAM串行输出端口测试等几个关键技术,完成了完整的动态检测系统.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吕卫国		3	10	2.0	3.0
2	吴佳		4	3	1.0	1.0