提高瞬态电流自动测试生成时间效率的方法

• 作者: 张鑫 邝继顺
• 来源期刊: 计算机应用研究
• 关键词: 测试生成 开路故障 可控制性 CMOS数字电路
• 年，卷（期）: 2006,（6）
• 所属期刊栏目: 研究探讨
• 页码范围: 82-84
• 页数: 3页
• 分类号: TP311
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-3695.2006.06.025

摘要

瞬态电流测试可以检测一些用电压测试和稳态电流测试不能检测的故障.对每一个故障都进行一次测试生成所花费的时间太多,而且没有必要.针对用瞬态电流测试来检测晶体管开路故障(Stuck-open Fault),研究精简故障数目,提高测试生成效率的方法.通过从靠近电路原始输出端向原始输入端逐渐进行测试生成以及其他一些办法,可以明显提高测试生成的时间效率.模拟实验结果表明,测试生成算法执行时间大约减少了70%.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邝继顺	湖南大学计算机与通信学院	82	418	11.0	16.0
2	张鑫	湖南大学计算机与通信学院	11	30	3.0	5.0