Hough变换在表面污渍检测中的应用

• 作者: 施鹏飞 钟锦敏 韩彦芳
• 来源期刊: 测控技术
• 学科: 工学
• 关键词: 图像配准 Hough变换 圆检测 表面污渍检测
• 年，卷（期）: 2006,（11）
• 所属期刊栏目: 理论与实践
• 页码范围: 74-76,78
• 页数: 4页
• 分类号: TP391
• 字数: 4046字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8829.2006.11.023

摘要

针对具体芯片图像的形状特征,提出了基于改进Hough变换的几何配准算法.该算法利用边缘点的梯度方向信息,以及通过圆上任意一点并沿着该点法线方向的直线必定经过该圆的圆心这一几何性质,将三维Hough变换空间简化为二维空间,较好地解决了传统广义Hough变换运算时间长、存储空间大的问题.实验表明,可以有效地对两幅图像进行配准,从而检测出芯片表面的污渍.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	施鹏飞	上海交通大学图像处理与模式识别研究所	194	4457	36.0	59.0
2	钟锦敏	上海交通大学图像处理与模式识别研究所	2	4	1.0	2.0
3	韩彦芳	上海交通大学图像处理与模式识别研究所	6	174	4.0	6.0