溅射超薄Ag膜中的晶格畸变

• 作者: 孙兆奇 宋学萍 曹春斌
• 来源期刊: 稀有金属
• 学科: 物理学
• 关键词: 直流溅射 超薄Ag膜 晶格畸变
• 年，卷（期）: 2006,（4）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 444-447
• 页数: 4页
• 分类号: O484
• 字数: 2432字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-7076.2006.04.005

摘要

用直流溅射法制备了厚度从11.9到189.0 nm的超薄Ag膜.X射线衍射(XRD)分析表明:样品中的Ag均为面心立方多晶结构,粒径从6.3到14.5 nm.通过晶格常数的计算发现:晶格畸变为收缩,且随着粒径的减小收缩率增加,最大值为1.1%.结合不同方法制备纳米Ag材料的研究结果,讨论了影响晶格畸变的主要因素.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	宋学萍	安徽大学物理与材料科学学院	63	367	10.0	14.0
2	孙兆奇	安徽大学物理与材料科学学院	91	563	11.0	16.0
3	曹春斌	安徽大学物理与材料科学学院	9	46	4.0	6.0