基于多目标遗传优化的容差电路故障屏蔽诊断

• 作者: 何怡刚 彭敏放 沈美娥 贺建飚
• 来源期刊: 电工技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: 故障诊断 遗传算法 多目标优化 故障屏蔽 模拟电路
• 年，卷（期）: 2006,（3）
• 所属期刊栏目: 第二届电工技术前沿问题学术论坛专题一
• 页码范围: 118-122
• 页数: 5页
• 分类号: TM131
• 字数: 4317字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-6753.2006.03.019

摘要

将多目标遗传优化算法与故障屏蔽原理相结合,提出了一种新的容差模拟电路故障屏蔽诊断方法.通过分析计算故障与容差效应对端口特征量的影响,建立了模拟电路具容差情况下的故障屏蔽模型,创建了目标函数与相应的适应值函数,用以搜索能极大限度屏蔽故障支路的最优激励,根据最优激励的Pareto解集及所提隶属度函数来实现故障定位.模拟试验结果表明:所提方法避免了故障效应与容差效应的相互交叠,故障定位准确率高.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	彭敏放	湖南大学电气与信息工程学院	84	962	19.0	26.0
2	何怡刚	湖南大学电气与信息工程学院	426	5127	34.0	51.0
3	沈美娥	北京信息工程学院计算机科学与工程系	25	209	9.0	13.0
4	贺建飚	中南大学信息科学与工程学院	58	399	11.0	18.0