用于纳米技术的显微技术手册

• 作者: 吴永礼 姚楠（编） 王中林（编）
• 来源期刊: 国外科技新书评介
• 学科: 工学
• 关键词: 技术手册 近场扫描光学显微技术 纳米技术 电子显微技术 X射线光谱学 电子能量损失 纳米尺度 材料技术
• 年，卷（期）: 2006,（9）
• 页码范围: 9-10
• 页数: 2页
• 分类号: TN253

摘要

本手册全面地介绍在纳米尺度上观察、描述、测量和操作材料技术的现状，论题涉及共焦光学显微技术、近场扫描光学显微技术、各种扫描探测显微技术、离子与电子显微技术、电子能量损失与X射线光谱学和电子束平板印刷技术等。每个课题均由该领域有重大贡献的世界级科学家撰写。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴永礼	中国科学院力学研究所	334	106	7.0	10.0