高精度天线测试台结构研究与分析

• 作者: 樊锐 焦洪杰 王春洁 陈五一
• 来源期刊: 中国测试技术
• 学科: 工学
• 关键词: 天线测量 测试台 变形 精度
• 年，卷（期）: 2006,（5）
• 所属期刊栏目: 计量技术与工程测试
• 页码范围: 77-78,118
• 页数: 3页
• 分类号: TN82
• 字数: 2146字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-5124.2006.05.025

摘要

介绍了在微波暗室里进行天线精度测量的基本原理,从结构受最大载荷变形后对天线测试台精度的影响这一角度出发,给出了结构参数和变形与整体刚度之间的关系.同时对结构刚度进行详细分析,提出以系统重量最低和比刚度最高的加权因子法的多目标优化函数及优化策略,最后,在研究与分析的基础上,对高精度天线测试台结构特点进行了总结.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈五一	北京航空航天大学精密传动技术研究中心	205	2966	29.0	46.0
2	王春洁	北京航空航天大学精密传动技术研究中心	58	258	7.0	13.0
3	樊锐	北京航空航天大学精密传动技术研究中心	54	625	10.0	24.0
4	焦洪杰	北京航空航天大学精密传动技术研究中心	10	13	2.0	3.0