可演化TMR容错表决电路的设计研究

• 作者: 刘尚合 原亮 吴会丛 赵强
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 演化硬件 三模冗余 现场可编程门阵列
• 年，卷（期）: 2006,（5）
• 所属期刊栏目: 设计与开发
• 页码范围: 370-373
• 页数: 4页
• 分类号: TN4
• 字数: 2325字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-353X.2006.05.015

摘要

在高温、辐射等恶劣环境下微电子设备的可靠性要求越来越高,利用演化硬件(EHW)原理,将EHW技术与三模块冗余(TMR)容错技术相结合,在FPGA上实现可演化的TMR表决电路,使硬件本身具有自我重构和自修复能力,大大提高了系统的可靠性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	原亮	军械工程学院计算机教研室	68	623	12.0	21.0
2	赵强	军械工程学院计算机教研室	70	443	11.0	15.0
3	刘尚合	军械工程学院静电与电磁防护研究所	203	2590	23.0	39.0
4	吴会丛	军械工程学院静电与电磁防护研究所	22	119	5.0	10.0