短暂性脑缺血发作的磁共振成像评估与临床因素的关系

• 作者: 何小燕 李仕林 陈振松
• 来源期刊: 中西医结合心脑血管病杂志
• 关键词: 短暂性脑缺血发作 脑梗死 磁共振
• 年，卷（期）: 2006,（2）
• 所属期刊栏目: 临床研究/观察
• 页码范围: 111-112
• 页数: 2页
• 分类号: R743.31|R256
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-1349.2006.02.009

摘要

目的探讨短暂性脑缺血发作(TIA)病人脑梗死的发生率与磁共振的表现以及相关的临床因素.方法对176例TIA病人临床资料与评估进行分析.结果磁共振检查发现有梗死灶101例.其中单发新鲜梗死灶53例,多发新鲜灶26例,新旧灶并存22例.81例有血管病变,52例为颈内系统病变,表现为偏侧肢体无力为主.TIA症状持续时间超过30 min及发作次数>3次者脑梗死的发生率较高.接受抗凝治疗和抗血小板治疗预后较好.结论TIA可由多种病因引起,反复多次发作、发作持续时间较长者容易发生脑梗死.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何小燕		15	56	4.0	6.0
2	李仕林		6	16	3.0	4.0
3	陈振松		4	11	2.0	3.0