熔融光纤器件熔锥区的形貌和微观结构研究

• 作者: 帅词俊 段吉安 蔡国华
• 来源期刊: 光学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 光纤器件 红外光谱 微观结构 显微形貌
• 年，卷（期）: 2006,（1）
• 所属期刊栏目: 光学器件
• 页码范围: 121-125
• 页数: 5页
• 分类号: TN253
• 字数: 2946字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-2239.2006.01.024

摘要

熔锥型光纤器件的光学性能由熔锥区的微观结构和形貌决定,而微观结构和形貌又由工艺条件决定.为了分析工艺条件对微观结构与形貌的影响机理及规律,以不同拉锥速度制作的耦合器为测试样,用显微红外光谱仪测试了其熔区和锥区的波数,用扫描电子显微镜观察了其相应点的表面形貌.经多次实验发现:在1100 cm-1和810 cm-1左右有两个明显的特征峰;1100 cm-1特征峰在锥区的波数最高,熔区次之,裸光纤最小;且随着拉锥速度的增大,1100 cm-1特征峰移向高波数.在光纤耦合器的锥区,存在微裂纹,随着拉锥速度增大,微裂纹越明显;在光纤耦合器的熔区,光纤表面析出了微小晶粒,且拉锥速度越小,晶粒越粗大.只有在适当的拉锥速度下(这里为150 μm/s),熔区和锥区的结构与裸光纤的微观结构接近,且缺陷最少,才能获得较高质量的光纤耦合器.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	帅词俊	中南大学机电工程学院	36	509	13.0	21.0
2	段吉安	中南大学机电工程学院	107	973	17.0	24.0
3	蔡国华	中南大学机电工程学院	5	34	3.0	5.0