平行带状线间加孔栅的抗耦合干扰技术研究

• 作者: 吴君 王鲁豫
• 来源期刊: 电子科技大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 平行带状线 孔栅 耦合干扰 反射损耗 S参数 a参数
• 年，卷（期）: 2006,（2）
• 所属期刊栏目: 电子信息材料与器件
• 页码范围: 257-260
• 页数: 4页
• 分类号: TN015
• 字数: 1652字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-0548.2006.02.032

摘要

针对平行带状线间的耦合问题,比较了平行带状线间不加孔栅和加孔栅的耦合干扰问题,研究了平行带状线间距不同时加不同孔栅结构的抗耦合干扰情况,分析了孔径与反射损耗的关系.通过计算与仿真,得到了一种新型的孔栅结构,有效地抑制了平行带状线间的耦合干扰.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王鲁豫	电子科技大学微电子与固体电子学院	11	70	4.0	8.0
2	吴君	电子科技大学微电子与固体电子学院	2	4	1.0	2.0