嵌入式芯核测试标准IEEE Std 1500综述

• 作者: 刘冠军 杨鹏 邱静
• 来源期刊: 测控技术
• 学科: 工学
• 关键词: 片上系统 芯核 IEEE 1500标准 边界扫描标准 核测试语言标准
• 年，卷（期）: 2006,（8）
• 所属期刊栏目: 总线与网络
• 页码范围: 40-43
• 页数: 4页
• 分类号: TP206
• 字数: 3620字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8829.2006.08.013

摘要

介绍了IEEE 1500标准制定的历程和背景、SoC测试面临的重大挑战及该标准所要解决的问题、IEEE 1500标准的基本结构和使用方法,最后对该标准的未来提出展望.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨鹏	国防科技大学机电工程与自动化学院	28	237	9.0	15.0
2	邱静	国防科技大学机电工程与自动化学院	115	1406	22.0	30.0
3	刘冠军	国防科技大学机电工程与自动化学院	88	860	18.0	23.0