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摘要:
介绍了IEEE 1500标准制定的历程和背景、SoC测试面临的重大挑战及该标准所要解决的问题、IEEE 1500标准的基本结构和使用方法,最后对该标准的未来提出展望.
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IEEE 1500标准
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测试壳
自动生成
内容分析
关键词云
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文献信息
篇名 嵌入式芯核测试标准IEEE Std 1500综述
来源期刊 测控技术 学科 工学
关键词 片上系统 芯核 IEEE 1500标准 边界扫描标准 核测试语言标准
年,卷(期) 2006,(8) 所属期刊栏目 总线与网络
研究方向 页码范围 40-43
页数 4页 分类号 TP206
字数 3620字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1000-8829.2006.08.013
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 杨鹏 国防科技大学机电工程与自动化学院 28 237 9.0 15.0
2 邱静 国防科技大学机电工程与自动化学院 115 1406 22.0 30.0
3 刘冠军 国防科技大学机电工程与自动化学院 88 860 18.0 23.0
传播情况
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2018(4)
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  • 二级引证文献(4)
2019(2)
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  • 二级引证文献(1)
研究主题发展历程
节点文献
片上系统
芯核
IEEE 1500标准
边界扫描标准
核测试语言标准
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
测控技术
月刊
1000-8829
11-1764/TB
大16开
北京2351信箱《测控技术》杂志社
82-533
1980
chi
出版文献量(篇)
8430
总下载数(次)
24
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