A/D转换芯片的DNL和INL参数测试

• 作者: 谢力
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: A/D转换芯片 DNL INL
• 年，卷（期）: 2006,（12）
• 所属期刊栏目: 理论与研究
• 页码范围: 6-8
• 页数: 3页
• 分类号: TN79
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2006.12.003

摘要

本文主要介绍了A/D转换芯片的静态参数DNL、INL的定义(以单极性为例),并给出了三种DNL、INL的测试电路.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谢力		3	7	1.0	2.0