高非线性光子晶体光纤与单模光纤低损耗熔接实验

• 作者: 张巍 张磊 彭江得 蔡青 陈实 黄翊东
• 来源期刊: 中国激光
• 学科: 工学
• 关键词: 光纤光学 光子晶体光纤 熔接损耗 模场失配 过渡光纤
• 年，卷（期）: 2006,（10）
• 所属期刊栏目: 光纤元件
• 页码范围: 1389-1392
• 页数: 4页
• 分类号: TN2
• 字数: 2887字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0258-7025.2006.10.019

摘要

在理论分析基础上,采用常规电弧放电熔接技术,在1550 nm波段对高非线性光子晶体光纤(PCF)与单模光纤(SMF)的熔接损耗机制进行了实验研究,指出模场失配是造成两者直接熔接损耗的主要因素;而熔接过程中因放电电流过大或放电时间过长所导致的光子晶体光纤的包层气孔形变以致塌陷,会引起超过10 dB的附加损耗.采用过渡光纤有效地缓解了两种光纤模场的失配;通过优化放电参数,有效地避免了光子晶体光纤包层气孔的塌陷,实现了高非线性光子晶体光纤和单模光纤的低损耗(＜1 dB)熔接.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张磊	清华大学电子工程系	122	1621	23.0	36.0
2	蔡青		4	60	4.0	4.0
3	彭江得	清华大学电子工程系	30	220	8.0	13.0
4	张巍	清华大学电子工程系	27	243	7.0	15.0
5	陈实	清华大学电子工程系	12	82	3.0	9.0
6	黄翊东	清华大学电子工程系	10	59	4.0	7.0